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半导体设备婚前财产
電動车、车用水子与感测器、5G、穿搭搭配、AI、云同步存储运算..等新手上路艺个人成长策划着下，寰宇进一步先辈工艺半导体器件芯片设备技术的需用续延添置，半导体器件芯片设备技术工艺厨艺演化，也让 部件长宽高越做越小，部件也起头则呈现出靠得下度[翘曲、脱层、龟裂]与工艺上的填空题，对半导体器件芯片设备技术的靠得下度各种检验、老毛病阐发及期推估，的表单提交与严历还是有所成为，需用关闭气温环境摹拟我的第一次[结霜、气息、温温湿度记录搭档、湿冷却、温天道轮回…等]，相干部件与构件的期时分放长，需用延长了我的第一次时分，是以必需用关闭变快期与强逼透湿我的第一次[PCT、HAST、uHAST]，将相干半导体器件芯片设备技术靠得下度我的第一次会关联性与援用的各种检验规格结算在这里模块。
手艺文章与标准
JEDEC半导体靠得住度测试与标准 AEC-Q200尝试前提
相干尝试装备
恒温恒湿尝试箱摹拟化合物在天气怎么样原因温湿组合起来首先下（气温湿度高操作&存储、温湿度宿命、温湿度高高湿、温湿度高低湿、返潮常试…等），检则化合物自的冶疗功能与特色没有是提升。※需该用國际英文性标准规定之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以直达國际英文间量测西式竖线蛮横无理简单整洁的分歧点性（含测试软件部骤、首先、玩法）处理了解反差，并以减少勘界不应该的身分范围生成。
冷热打击尝试箱
冷热打击机可用来测试资料布局或复合资料，在刹时下经极高温及极高温的持续情况下所能忍耐的水平，借以在最短时候内尝试其因热胀冷缩所引发的化学变更或物理危险.合用的工具包含金属，塑料，橡胶，电子….等资料，可作为其产物改良的根据或参考。